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紫外光半導体レーザー用AlN/GaN系単結晶薄膜の開発 −AlN/GaN量子井戸層の評価及びAlN層の低抵抗化− |
橋爪 良太 | 1996年 卒論 |
Si(100)表面における金属原子細線の構築 −走査トンネル顕微鏡による観察− |
高見 和宏 | 1997年 卒論 |
Si表面における原子操作 −走査トンネル顕微鏡による− |
松永 智教 | 1997年 卒論 |
走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面上でのAl原子細線の観察 | 緒方 智行 | 1998年 修論 |
Ti(001)表面のSTM観察と酸素原子による欠陥制御 | 渡辺 裕司 | 1998年 卒論 |
走査トンネル顕微鏡による表面極微細構造の観察とその制御 | 高見 和宏 | 1999年 修論 |
水素終端化Si(100)面の貼り合わせの試み | 北尾 哲朗 | 1999年 卒論 |
Si(111)表面および水素終端化表面上でのC60分子の配列制御 | 北尾 哲朗 | 2001年 修論 |
完全フラットナノ電極の試作とそのプロセス評価 | 島田 乃梨子 | 2001年 卒論 |
金属原子架橋の生成・消滅と原子スイッチへの応用 | 太田黒 敦彦 | 2002年 卒論 |
トンネル電流誘起発光分光によるカーボンナノチューブの機能評価 | 植村 隆文 | 2002年 卒論 |
金属微粒子を用いた量子化ポイントコンタクトの制御 | 西原 清仁 | 2003年 修論 |
カーボンナノチューブ探針を用いたトンネル電流誘起発光分析 | 中野 剛志 | 2004年 卒論 |
トンネル電流誘起発光分析による個々のカーボンナノチューブの電子状態解析 | 植村 隆文 | 2004年 修論 |
種々の金属微粒子を用いた量子ナノコンタクトの制御 | 太田黒 敦彦 | 2004年 修論 |
グラファイト表面上に配列した有機分子観察 −走査トンネル顕微鏡による− |
中澤 輝彦 | 1997年 卒論 |
走査トンネル顕微鏡による表面局所分子化学反応の設計 | 吉田 章人 | 1997年 卒論 |
直鎖有機分子の自己組織化とその構造制御 | 橋爪 良太 | 1998年 修論 |
直鎖有機分子の自己組織化構造のSTM観察 | 岡田 潤 | 1998年 卒論 |
固体表面上における有機分子の二次元周期配列制御 | 松永 智教 | 1999年 修論 |
有機分子の表面自己組織化現象のメカニズムの解明 | 吉田 章人 | 1999年 修論 |
有機分子による表面自己組織化構造の観察とその制御 | 堀江 佳正 | 1999年 卒論 |
実空間差分法による有機分子二次元自己組織化構造形成メカニズムの解析 | 佐々木 博之 | 2000年 修論 |
走査トンネル分光法による有機単分子膜の電子構造解析 | 渡辺 裕司 | 2000年 修論 |
機能性有機分子の固体表面二次元周期配列のSTM観察とその制御 | 久保 政士郎 | 2000年 卒論 |
走査トンネル顕微鏡/分光法による直鎖有機分子の電子状態解析 | 清水 一孝 | 2000年 卒論 |
機能性有機分子による表面二次元秩序構造のSTM観察とその制御 | 堀江 佳正 | 2001年 修論 |
走査トンネル顕微鏡によるクラウンエーテルの分子認識の評価 | 真田 周嗣 | 1998年 修論 |
HOPG表面上のクラウンエーテルの観察 | 佐々木 博之 | 1998年 卒論 |
走査トンネル顕微鏡によるクラウンエーテル分子の表面周期配列の評価 | 中澤 輝彦 | 1999年 修論 |
走査トンネル顕微鏡によるジベンゾクラウンの表面周期配列の評価 | 児玉 知也 | 1999年 卒論 |
局所化学反応制御による一次元有機単分子鎖の構築とその生成メカニズムの考察 | 清水 一孝 | 2002年 修論 |
有機超薄膜の局所導電性評価−独立駆動2探針STMによる− | 水野 純 | 2002年 修論 |
一次元有機単分子鎖構築における連鎖重合反応のダイナミクス | 山本 優介 | 2002年 卒論 |
独立駆動二探針STMによる有機超薄膜の導電性評価 −ヨウ素ドープによる導電率の向上− |
石井 孝典 | 2003年 卒論 |
ポリジアセチレン分子鎖の形成とその制御 | 樋口 裕一 | 2003年 卒論 |
STMによる機能性有機分子の配列観察とその制御 | 宮脇 真治 | 2003年 卒論 |
STMによるペンタセン薄膜の電気伝導特性評価 | 島田 乃梨子 | 2003年 修論 |
ナノギャップ電極の作製と有機分子の導電性測定 | 大神 直輝 | 2004年 卒論 |
ポリジアセチレン超薄膜の電気伝導特性評価 −ドーピング効果− |
鶴田 真司 | 2004年 卒論 |
単一重合分子鎖の機能変調 −電界効果による− |
宮村 友輔 | 2004年 卒論 |
単一重合分子鎖への電荷注入メカニズムの解析 | 山本 優介 | 2004年 修論 |
ペンタセンナノロッドを用いた電界効果トランジスタの特性評価 | 川西 隆史 | 2005年 卒論 |
ナノコンタクトプリントを目的としたポリジアセチレン分子膜のドメイン制御 | 由良 佳代 | 2005年 卒論 |
新規ペンタセンナノ結晶の発見とその電気伝導特性評価 | 大森 力 | 2005年 修論 |
機能性有機分子の電気伝導計測を目的としたナノギャップフラット電極の作製 | 樋口 裕一 | 2005年 修論 |
走査型近接場光学顕微鏡におけるプローブの開発 | 緒方 智行 | 1996年 卒論 |
STM-AES及びSTM-XMAの開発 | 真田 周嗣 | 1996年 卒論 |
トンネル電流誘起による放出フォトン検出システムの開発 | 岡田 潤 | 2000年 修論 |
独立駆動二探針走査トンネル顕微鏡システムの開発 | 水野 純 | 2000年 卒論 |
トンネル電流誘起発光検出とその発光特性の評価 | 山口 晋一 | 2000年 卒論 |
トンネル電流誘起発光検出システムの開発 | 丸山 倫子 | 2001年 卒論 |
トンネル電流有機発光分光システムの開発とナノ構造評価への応用 | 山口 晋一 | 2002年 修論 |
光反射スペクトルを用いた表面評価装置の開発 −測定精度の向上− |
辻 彰 | 1996年 卒論 |
マルカート法による表面X線回折用解析プログラムの開発 −Si(111)/Au表面の構造解析− |
宮崎 泰朗 | 1996年 卒論 |
マルカート法による表面X線回折用解析プログラムの開発 −Si(111)/Ag表面の構造解析− |
山崎 一輝 | 1996年 卒論 |
X線定在波法を用いた電極金属/安定化ジルコニア界面の構造解析 | 山崎 一輝 | 1998年 修論 |
X線定在波法による金属電極(Ni)/固体電解質(ZrO2)表面の構造解析 |
石田 茂 | 1998年 卒論 |
X線定在波法によるSi(100)表面上のBi原子細線の構造評価 | 倉田 智生 | 1999年 卒論 |
X線定在波法による金属シリサイド薄膜/シリコン界面の構造解析 | 石田 茂 | 2000年 修論 |
X線定在波法による表面一次元量子細線の構造解析 | 的場 健司 | 2000年 卒論 |
Si(001)表面上のBi原子細線の三次元構造解析 −X線定在波法による− |
丸山 淳平 | 2001年 卒論 |
XSW用超高真空実験システムの立ち上げ −SPring-8 BL13XU− |
高木 広幸 | 2001年 卒論 |
超高真空XSWシステムの開発とBi原子細線の構造解析への応用 | 大橋 恒久 | 2002年 修論 |
X線定在波法による界面埋め込みBi細線の原子構造解析 | 的場 健司 | 2002年 修論 |
埋め込んだ原子細線の三次元構造解析 −X線定在波法による− |
高木 広幸 | 2003年 修論 |
Si表面の金属吸着による超構造形成 −低速電子回折による− |
岡山 隆之 | 1997年 卒論 |
白金電極/電解質ジルコニア界面の構造評価 −RHEED、AFMによる− |
諏訪 真矢 | 1997年 卒論 |
低速イオン散乱による金属電極/固体電解質ジルコニア界面の構造解析 | 清水 謙 | 1998年 卒論 |
イオン散乱分光法による金属電極/電解質ジルコニア界面の構造評価 | 諏訪 真矢 | 1999年 修論 |
イオン散乱分光法による金属/固体電解質界面の構造評価 | 清水 謙 | 2000年 修論 |
イオン散乱分光法による白金/ジルコニア界面の構造解析 | 大橋 恒久 | 2000年 卒論 |
低真空下での薄膜形成をモニタリングするイオン散乱分光システムの開発 | 松本 英雄 | 2000年 卒論 |
低真空対応低速イオン散乱分光システムの開発 | 倉田 智生 | 2001年 修論 |
低速イオン散乱分光の低真空下での応用 | 伊地知 大策 | 2001年 卒論 |
強誘電体LiNbO3、LiTaO3の表面超平坦化とその原子構造解析 | 松本 英雄 | 2002年 修論 |
イオン散乱分光法によるLiNbO3、LiTaO3表面の原子配列評価 | 大西 秀治 | 2002年 卒論 |
強誘電体LiNbO3、LiTaO3表面の加熱による超平坦化 | 武尾 篤 | 2003年 卒論 |
LiNbO3、LiTaO3表面の超平坦化とイオン散乱分光法による表面構造解析 | 大西 秀治 | 2004年 修論 |
半導体表面と高輝度X線との相互作用のナノスケール実空間観察 −放射光STMによる− |
真鍋 賢 | 2002年 卒論 |
放射光STMの開発 −S/Nの向上と元素分析の試み− |
小川 泰 | 2003年 卒論 |
放射光STMの開発 | 丸山 淳平 | 2003年 修論 |
放射光STMによるナノスケールでの元素分析の試み | 高橋 浩史 | 2004年 卒論 |
放射光STMの開発とナノスケール元素分析の試み | 真鍋 賢 | 2004年 修論 |
放射光STMによる半導体表面と高輝度X線との相互作用の解析 〜SiとGeの元素識別〜 |
平山 悠介 | 2005年 卒論 |
ナノインプリント技術を用いたモルフォ蝶型構造発色体の作製と評価 | 石川 陽子 | 2005年 卒論 |