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研究テーマ

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過去の修士論文・卒業論文題目一覧

無機材料

紫外光半導体レーザー用AlN/GaN系単結晶薄膜の開発
−AlN/GaN量子井戸層の評価及びAlN層の低抵抗化−
橋爪 良太 1996年
卒論
Si(100)表面における金属原子細線の構築
−走査トンネル顕微鏡による観察−
高見 和宏 1997年
卒論
Si表面における原子操作
−走査トンネル顕微鏡による−
松永 智教 1997年
卒論
走査トンネル顕微鏡によるSi(100)表面上でのAl原子細線の観察 緒方 智行 1998年
修論
Ti(001)表面のSTM観察と酸素原子による欠陥制御 渡辺 裕司 1998年
卒論
走査トンネル顕微鏡による表面極微細構造の観察とその制御 高見 和宏 1999年
修論
水素終端化Si(100)面の貼り合わせの試み 北尾 哲朗 1999年
卒論
Si(111)表面および水素終端化表面上でのC60分子の配列制御 北尾 哲朗 2001年
修論
完全フラットナノ電極の試作とそのプロセス評価 島田 乃梨子 2001年
卒論
金属原子架橋の生成・消滅と原子スイッチへの応用 太田黒 敦彦 2002年
卒論
トンネル電流誘起発光分光によるカーボンナノチューブの機能評価 植村 隆文 2002年
卒論
金属微粒子を用いた量子化ポイントコンタクトの制御 西原 清仁 2003年
修論
カーボンナノチューブ探針を用いたトンネル電流誘起発光分析 中野 剛志 2004年
卒論
トンネル電流誘起発光分析による個々のカーボンナノチューブの電子状態解析 植村 隆文 2004年
修論
種々の金属微粒子を用いた 量子ナノコンタクトの制御 太田黒 敦彦 2004年
修論
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有機分子

    
グラファイト表面上に配列した有機分子観察
−走査トンネル顕微鏡による−
中澤 輝彦 1997年
卒論
走査トンネル顕微鏡による表面局所分子化学反応の設計 吉田 章人 1997年
卒論
直鎖有機分子の自己組織化とその構造制御 橋爪 良太 1998年
修論
直鎖有機分子の自己組織化構造のSTM観察 岡田 潤 1998年
卒論
固体表面上における有機分子の二次元周期配列制御 松永 智教 1999年
修論
有機分子の表面自己組織化現象のメカニズムの解明 吉田 章人 1999年
修論
有機分子による表面自己組織化構造の観察とその制御 堀江 佳正 1999年
卒論
実空間差分法による有機分子二次元自己組織化構造形成メカニズムの解析 佐々木 博之 2000年
修論
走査トンネル分光法による有機単分子膜の電子構造解析 渡辺 裕司 2000年
修論
機能性有機分子の固体表面二次元周期配列のSTM観察とその制御 久保 政士郎 2000年
卒論
走査トンネル顕微鏡/分光法による直鎖有機分子の電子状態解析 清水 一孝 2000年
卒論
機能性有機分子による表面二次元秩序構造のSTM観察とその制御 堀江 佳正 2001年
修論
走査トンネル顕微鏡によるクラウンエーテルの分子認識の評価 真田 周嗣 1998年
修論
HOPG表面上のクラウンエーテルの観察 佐々木 博之 1998年
卒論
走査トンネル顕微鏡によるクラウンエーテル分子の表面周期配列の評価 中澤 輝彦 1999年
修論
走査トンネル顕微鏡によるジベンゾクラウンの表面周期配列の評価 児玉 知也 1999年
卒論
局所化学反応制御による一次元有機単分子鎖の構築とその生成メカニズムの考察 清水 一孝 2002年
修論
有機超薄膜の局所導電性評価−独立駆動2探針STMによる− 水野 純 2002年
修論
一次元有機単分子鎖構築における連鎖重合反応のダイナミクス 山本 優介 2002年
卒論
独立駆動二探針STMによる有機超薄膜の導電性評価
−ヨウ素ドープによる導電率の向上−
石井 孝典 2003年
卒論
ポリジアセチレン分子鎖の形成とその制御 樋口 裕一 2003年
卒論
STMによる機能性有機分子の配列観察とその制御 宮脇 真治 2003年
卒論
STMによるペンタセン薄膜の電気伝導特性評価 島田 乃梨子 2003年
修論
ナノギャップ電極の作製と有機分子の導電性測定 大神 直輝 2004年
卒論
ポリジアセチレン超薄膜の電気伝導特性評価
−ドーピング効果−
鶴田 真司 2004年
卒論
単一重合分子鎖の機能変調
−電界効果による−
宮村 友輔 2004年
卒論
単一重合分子鎖への電荷注入メカニズムの解析 山本 優介 2004年
修論
ペンタセンナノロッドを用いた電界効果トランジスタの特性評価 川西 隆史 2005年
卒論
ナノコンタクトプリントを目的としたポリジアセチレン分子膜のドメイン制御 由良 佳代 2005年
卒論
新規ペンタセンナノ結晶の発見とその電気伝導特性評価 大森 力 2005年
修論
機能性有機分子の電気伝導計測を目的としたナノギャップフラット電極の作製 樋口 裕一 2005年
修論
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装置開発

走査型近接場光学顕微鏡におけるプローブの開発 緒方 智行 1996年
卒論
STM-AES及びSTM-XMAの開発 真田 周嗣 1996年
卒論
トンネル電流誘起による放出フォトン検出システムの開発 岡田 潤 2000年
修論
独立駆動二探針走査トンネル顕微鏡システムの開発 水野 純 2000年
卒論
トンネル電流誘起発光検出とその発光特性の評価 山口 晋一 2000年
卒論
トンネル電流誘起発光検出システムの開発 丸山 倫子  2001年
卒論
トンネル電流有機発光分光システムの開発とナノ構造評価への応用 山口 晋一 2002年
修論
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XSW (X-ray Standing Wave method)

光反射スペクトルを用いた表面評価装置の開発
−測定精度の向上−
辻 彰 1996年
卒論
マルカート法による表面X線回折用解析プログラムの開発
−Si(111)/Au表面の構造解析−
宮崎 泰朗 1996年
卒論
マルカート法による表面X線回折用解析プログラムの開発
−Si(111)/Ag表面の構造解析−
山崎 一輝 1996年
卒論
X線定在波法を用いた電極金属/安定化ジルコニア界面の構造解析 山崎 一輝 1998年
修論
X線定在波法による金属電極(Ni)/固体電解質(ZrO2)表面の構造解析
石田 茂 1998年
卒論
X線定在波法によるSi(100)表面上のBi原子細線の構造評価 倉田 智生 1999年
卒論
X線定在波法による金属シリサイド薄膜/シリコン界面の構造解析 石田 茂 2000年
修論
X線定在波法による表面一次元量子細線の構造解析 的場 健司 2000年
卒論
Si(001)表面上のBi原子細線の三次元構造解析
−X線定在波法による−
丸山 淳平 2001年
卒論
XSW用超高真空実験システムの立ち上げ
−SPring-8 BL13XU−
高木 広幸 2001年
卒論
超高真空XSWシステムの開発とBi原子細線の構造解析への応用 大橋 恒久 2002年
修論
X線定在波法による界面埋め込みBi細線の原子構造解析 的場 健司 2002年
修論
埋め込んだ原子細線の三次元構造解析
−X線定在波法による−
高木 広幸 2003年
修論
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ISS (Ion Scattering Spectroscopy)

Si表面の金属吸着による超構造形成
−低速電子回折による−
岡山 隆之 1997年
卒論
白金電極/電解質ジルコニア界面の構造評価
−RHEED、AFMによる−
諏訪 真矢 1997年
卒論
低速イオン散乱による金属電極/固体電解質ジルコニア界面の構造解析 清水 謙 1998年
卒論
イオン散乱分光法による金属電極/電解質ジルコニア界面の構造評価 諏訪 真矢 1999年
修論
イオン散乱分光法による金属/固体電解質界面の構造評価 清水 謙 2000年
修論
イオン散乱分光法による白金/ジルコニア界面の構造解析 大橋 恒久 2000年
卒論
低真空下での薄膜形成をモニタリングするイオン散乱分光システムの開発 松本 英雄 2000年
卒論
低真空対応低速イオン散乱分光システムの開発 倉田 智生 2001年
修論
低速イオン散乱分光の低真空下での応用 伊地知 大策 2001年
卒論
強誘電体LiNbO3、LiTaO3の表面超平坦化とその原子構造解析 松本 英雄 2002年
修論
イオン散乱分光法によるLiNbO3、LiTaO3表面の原子配列評価 大西 秀治 2002年
卒論
強誘電体LiNbO3、LiTaO3表面の加熱による超平坦化 武尾 篤 2003年
卒論
LiNbO3、LiTaO3表面の超平坦化とイオン散乱分光法による表面構造解析 大西 秀治 2004年
修論
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SR-STM (Syncrotoron Radiation-STM)

半導体表面と高輝度X線との相互作用のナノスケール実空間観察
−放射光STMによる−
真鍋 賢 2002年
卒論
放射光STMの開発
−S/Nの向上と元素分析の試み−
小川 泰 2003年
卒論
放射光STMの開発 丸山 淳平 2003年
修論
放射光STMによるナノスケールでの元素分析の試み 高橋 浩史 2004年
卒論
放射光STMの開発とナノスケール元素分析の試み 真鍋 賢 2004年
修論
放射光STMによる半導体表面と 高輝度X線との相互作用の解析
〜SiとGeの元素識別〜
平山 悠介 2005年
卒論
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構造色

ナノインプリント技術を用いたモルフォ蝶型構造発色体の作製と評価 石川 陽子 2005年
卒論
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